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晶圓測厚儀 MX203-4-21
晶圓測厚儀 MX203-4-21是一款手動(dòng)載片的晶圓幾何特性量測儀，適用于直徑分別為 50 mm、75 mm和 100 mm的硅片。該設(shè)備專為控制晶圓厚度與形狀...

型號(hào)：所在地：德國參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/25 16:50:08 對比

晶圓測厚儀晶圓厚度測量儀晶圓厚度測量儀器晶圓厚度測量晶圓TTV測量
晶圓厚度測量儀 MX 102-8
晶圓厚度測量儀 MX 102-8適用于 150 - 200 mm硅片的高分辨率厚度與平整度（TTV）測量儀。只需幾秒鐘即可輕松適應(yīng)不同厚度范圍，可集成到自動(dòng)機(jī)器...

型號(hào)：所在地：國外參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/19 18:08:32 對比

晶圓厚度測量儀晶圓測厚儀晶圓厚度測量設(shè)備非接觸式晶圓厚度測量儀晶圓測厚
全自動(dòng)接觸角測量儀
SURFTENS HL 200 automatic全自動(dòng)接觸角測量儀專為半導(dǎo)體工業(yè)和科研領(lǐng)域設(shè)計(jì)，尤其適用于晶圓涂覆及光刻工藝中的工藝控制。

型號(hào)： SURFTENS ... 所在地：德國參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/6 15:59:45 對比

全自動(dòng)接觸角測量儀接觸角測量儀接觸角測試儀接觸角測定儀接觸角儀
晶圓接觸角測量儀
SURFTENS HL 200 晶圓接觸角測量儀專為半導(dǎo)體工業(yè)及科研領(lǐng)域開發(fā)，特別適用于硅片表面處理過程中的工藝控制。它是分析硅片接觸角與潤濕性的理想工具，能夠...

型號(hào)： SURFTENS ... 所在地：國外參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/5/29 21:38:53 對比

接觸角測量儀接觸角測試儀接觸角測定儀接觸角儀光學(xué)接觸角測量儀
薄膜應(yīng)力測試儀
FLATSCAN 薄膜應(yīng)力測試儀用于對各種反射面（如硅片、鏡面、X 射線鏡（Goebel-mirrors）、金屬表面或拋光聚合物）的平整度、表面曲率、平均半徑和...

型號(hào)： FLATSCAN 所在地：國外參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/5/22 11:12:53 對比

應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀應(yīng)力檢測儀應(yīng)力儀應(yīng)力測試設(shè)備